Universiteit Utrechtstudierichting Fonetiek

auditieve woordherkenning

aangroei1 - aangroei2a - aangroei2b - aangroei2c - aangroei3 - aangroei4a - aangroei4b - aangroei4c -
 

Aangroeiproef


Met behulp van een aangroeiproef ('gating') kan gedemonstreerd worden op welk moment woordherkenning optreedt. Hierbij wordt een woord in delen aangeboden. Als eerste wordt het initiële gedeelte van het woord (het eerste foneem of CV-fragment) aangeboden, waarna per stap meer fonemen van het woord worden aangeboden. Op een bepaald moment kan al volledige woordherkenning optreden terwijl nog niet het hele woord is aangeboden. In deze demonstraties wordt het principe van gating gedemonstreerd.
fragment beluisteren afluisteren
technische details technische informatie
tekst/transcriptie tekst/transcriptie
naar top


aangroei1
Gating per spraakklank.


naar top


aangroei2a
Gating per spraakklank, eerste gate is initiëleCV-fragment.


naar top


aangroei2b
Gating per spraakklank, eerste gate is initiële CV-fragment. De responsies van deze aangroeiproef gaan eerst in de richting van ´aangroei2a´, pas nadat extra informatieaangeboden wordt is het mogelijk om tot andere responsies te komen, zoals in ´aangroei2b´ en ´aangroei2c´.


naar top


aangroei2c
Gating per spraakklank, eerste gate is initiële CV-fragment. De responsies van deze aangroeiproef gaan eerst in de richting van ´aangroei2a´, pas nadat extra informatieaangeboden wordt is het mogelijk om tot andere responsies te komen, zoals in ´aangroei2b´ en ´aangroei2c´.


naar top


aangroei3
Gating per spraakklank.


naar top


aangroei4a
Gating per syllabe. Eerste gate is initiële CVC-fagment. Responsies convergeren normaliter naar de één-na-laatste syllabe van dit fragment.


naar top


aangroei4b
Gating per syllabe. Eerste gate is initiële CVC-fagment. Responsies convergeren normaliter naar de één-na-laatste syllabe van dit fragment.


naar top


aangroei4c
Uit deze zin is het fragment van ´aangroei4a´ gebruikt voor een aangroeiproef.


zoeken home UU home Letteren home Fonetiek e-mail
19 Sep 2000